更新時間：2024-06-15
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| 品牌 | 其他品牌 | 貨號 | 123 |
|---|---|---|---|
| 規(guī)格 | CSF-8-30-1U | 供貨周期 | 一個月以上 |
| 主要用途 | 半導體 | 應用領域 | 電子 |
| 品牌 | 哈默納科 | 用途 | 半導體 |
| 材質(zhì) | 鋼 | 精度 | 高 |
缺陷越大，這種差異也越大。因此，無論是酗量長度或當量大小，它們并不能真實表示議陷的實際尺寸。而僅僅是一個相對值，哈默納科超聲波測量精密諧波CSF-8-30-1U這個相對值與缺陷的實際尺寸之問不一定有確定性數(shù)量關(guān)系。但是，在相同條件，相同方法測定的缺陷大小之間，可類比數(shù)值的相對大小。用超聲波法測定缺陷的實際尺寸需用特殊的方法。
超聲波探傷塊陷的定位方法是根據(jù)工件中的聲速和反射時間來確定的，利用探傷儀示浪屏時間軸‘水平軸來測量。在超聲波波型《縱波、橫波、表
面波或板波)確定后，在特定工件中的聲速也就已知，把時間軸的間距調(diào)節(jié)到與工件厚度相對應，那么從爾波屏上缺陷反射波的位界就可直接讀出缺陷位置。在橫波斜角探傷中，缺陷定位比直探頭探傷要復雜些，需要對斜探頭斜楔中的聲程距離進行修正操作;要通過適當?shù)闹苯侨呛瘮?shù)運算或i!哈默納科超聲波測量精密諧波CSF-8-30-1U算尺寸確定缺陷時水平和垂直位置，若要從儀表屏波屏時間軸上直讀缺陷位置，則需用試塊進行專門的校準操作。
超聲波探傷缺..的定性尚有困難，在A型顯示中，主要根據(jù)缺陷反射波脈沖波形內(nèi)特征及工藝過程和探傷人員的經(jīng)驗。在B型和C顯示中，根據(jù)示波屏圖象形貌較易于判別缺陷性質(zhì)。
